Математико-статистические методы для повышения эффективности контроля и управления качеством производства интегральных микросхем: (05.27.01 ; 05.27.05): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук / Кишин. политехн. ин-т им. С. Лазо
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Шестакова, Т. В. |
| Опубликовано: | Кишинев , 1990 |
| Физические характеристики: |
18 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||