Исследование влияния глубоких примесей и облучения на электрофизические характеристики кремниевых диодов Шоттки частотно-емкостным методом: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / АН УзССР. Физ.-техн. ин-т им. С. В. Стародубцева
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Шакиров, У. А. |
| Опубликовано: | Ташкент , 1978 |
| Физические характеристики: |
21 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||