Изготовление и C-V характеристики структур Si-Si₃N₄ и Si-SiO₂-Si₃N₄
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Чу, Т. |
Опубликовано: | М. : ЦНИИ техн.-экон. исслед. и науч. информации , 1968 |
Физические характеристики: |
24 с.
|
Язык: | Русский |
Серия: |
Переводы иностр. литературы. Серия: "Полупроводниковые приборы и микроэлектроника"
Пер. № 8/ЭТ-2898 |
00000nam0a22000001ib4500 | |||
001 | BY-NLB-rr18574120000 | ||
005 | 20070507202252.0 | ||
100 | # | # | $a 20070507d1968 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Изготовление и C-V характеристики структур Si-Si₃N₄ и Si-SiO₂-Si₃N₄ |
210 | # | # | $a М. $c ЦНИИ техн.-экон. исслед. и науч. информации $d 1968 |
215 | # | # | $a 24 с. |
225 | 2 | # | $a Переводы иностр. литературы. Серия: "Полупроводниковые приборы и микроэлектроника" $f М-во электронной пром-сти СССР $v Пер. № 8/ЭТ-2898 |
300 | # | # | $a На обл. авт. не указан |
675 | # | # | $a 539.216.2 |
700 | # | 1 | $a Чу $b Т. |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070507 $g psbo |