Изготовление и C-V характеристики структур Si-Si₃N₄ и Si-SiO₂-Si₃N₄

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ107465,
Вид документа: Книги
Автор: Чу, Т.
Опубликовано: М. : ЦНИИ техн.-экон. исслед. и науч. информации , 1968
Физические характеристики: 24 с.
Язык: Русский
Серия: Переводы иностр. литературы. Серия: "Полупроводниковые приборы и микроэлектроника" Пер. № 8/ЭТ-2898
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr18574120000
005 20070507202252.0
100 # # $a 20070507d1968 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Изготовление и C-V характеристики структур Si-Si₃N₄ и Si-SiO₂-Si₃N₄ 
210 # # $a М.  $c ЦНИИ техн.-экон. исслед. и науч. информации  $d 1968 
215 # # $a 24 с. 
225 2 # $a Переводы иностр. литературы. Серия: "Полупроводниковые приборы и микроэлектроника"  $f М-во электронной пром-сти СССР  $v Пер. № 8/ЭТ-2898 
300 # # $a На обл. авт. не указан 
675 # # $a 539.216.2 
700 # 1 $a Чу  $b Т. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070507  $g psbo