Методы и технические средства тестового диагностирования микропроцессорных блоков элементов со встроенной памятью: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.05) / Харьк. политехн. ин-т им. В. И. Ленина
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Чернышев, В. А. |
| Опубликовано: | Харьков , 1989 |
| Физические характеристики: |
24 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||