|
|
|
|
|
00000nam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr18308770000 |
| 005 |
20070503162527.0 |
| 010 |
# |
# |
$d 5 к.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [81-73773]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20070503d1981 y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a UA
|
| 200 |
1 |
# |
$a Послойный анализ методом масс-спектрометрии вторичных ионов
|
| 210 |
# |
# |
$a Киев
$c о-во «Знание» УССР
$d 1981
|
| 215 |
# |
# |
$a 26 с.
$c граф.
$d 20 см
|
| 225 |
2 |
# |
$a Приборостроение
$f О-во «Знание» УССР
|
| 300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 23-26 (34 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 299 экз.
|
| 610 |
0 |
# |
$a Пленки тонкие - Масс-спектроскопические исследования
|
| 675 |
# |
# |
$a 539.27
|
| 700 |
# |
1 |
$a Ченакин
$b С. П.
$g Сергей Петрович
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070503
$g psbo
|
