Послойный анализ методом масс-спектрометрии вторичных ионов
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Ченакин, С. П. |
| Опубликовано: | Киев : о-во «Знание» УССР , 1981 |
| Физические характеристики: |
26 с. : граф. ; 20 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Приборостроение
|
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||