Определение численных характеристик электронного распределения в кристаллах по дифракционным данным: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.18)
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Цирельсон, В. Г. |
Опубликовано: | М. , 1979 |
Физические характеристики: |
16 с.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|