Электронографическое, электронномикроскопическое и рентгендифрактометрическое исследование субструктуры поликристаллических тонких пленок металлов: (046): Автореферат дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Харьк. политехн. ин-т им. В. И. Ленина

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ105738СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Панчеха, П. А.
Опубликовано: Харьков , 1968
Физические характеристики: 17 с. : черт.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr17596010000
005 20070424175533.0
021 # # $a RU  $b [68-39685] 
100 # # $a 20070424d1968 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UA 
200 1 # $a Электронографическое, электронномикроскопическое и рентгендифрактометрическое исследование субструктуры поликристаллических тонких пленок металлов  $e (046)  $e Автореферат дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук  $f Харьк. политехн. ин-т им. В. И. Ленина 
210 # # $a Харьков  $d 1968 
215 # # $a 17 с.  $c черт. 
686 # # $a 046  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Панчеха  $b П. А.  $g Петр Алексеевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070424  $g psbo