Электронографическое, электронномикроскопическое и рентгендифрактометрическое исследование субструктуры поликристаллических тонких пленок металлов: (046): Автореферат дисс. на соискание учен. степени канд. техн. наук / Харьк. политехн. ин-т им. В. И. Ленина
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Панчеха, П. А. |
Опубликовано: | Харьков , 1968 |
Физические характеристики: |
17 с. : черт.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|