Исследование тонкой структуры некоторых полупроводниковых монокристаллов методом рентгеновской дифрактометрии: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / Иркут. гос. ун-т им. А. А. Жданова
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Ольховиков, Ю. А. |
| Опубликовано: | Иркутск , 1974 |
| Физические характеристики: |
25 с. : граф.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||