Влияние электрического поля на накопление и отжиг дефектов вакансионной природы в кремнии n-типа проводимости: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников

Сохранено в:
Шифр документа: 155532/92,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Наумова, О. В.
Опубликовано: Новосибирск , 1992
Физические характеристики: 20 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr16570190000
005 20070412183200.0
021 # # $a RU  $b [92-3483а] 
100 # # $a 20070412d1992 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Влияние электрического поля на накопление и отжиг дефектов вакансионной природы в кремнии n-типа проводимости  $e (01.04.10)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $f Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников 
210 # # $a Новосибирск  $d 1992 
215 # # $a 20 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 20 (5 назв.) 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Наумова  $b О. В.  $g Ольга Викторовна 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070412  $g psbo