Влияние электрического поля на накопление и отжиг дефектов вакансионной природы в кремнии n-типа проводимости: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние, Ин-т физики полупроводников
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Наумова, О. В. |
Опубликовано: | Новосибирск , 1992 |
Физические характеристики: |
20 с.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|