Электронномикроскопические исследования дефектной структуры эпитаксиальных пленок GaAs{н.инд.}(1-х)Р{н.инд.}(x) и светодиодов на их основе: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.10)

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ391530СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Нагдаев, Е. Н.
Опубликовано: М. , 1980
Физические характеристики: 23 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr16440850000
005 20070412172125.0
100 # # $a 20070412d1980 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Электронномикроскопические исследования дефектной структуры эпитаксиальных пленок GaAs{н.инд.}(1-х)Р{н.инд.}(x) и светодиодов на их основе  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e (01.04.10) 
210 # # $a М.  $d 1980 
215 # # $a 23 с. 
300 # # $a В надзаг.: Моск. ин-т электрон. техники. Библиогр.: с. 21-23 (12 назв.). Для служеб. пользования 
686 # # $a 01.04.10  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Нагдаев  $b Е. Н.  $g Евгений Николаевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070412  $g psbo