Колориметрический контроль параметров тонких пленок в производстве интегральных схем: (05.11.13): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук / Ташк. политехн. ин-т им. Абу Райхана Беруни

Сохранено в:
Шифр документа: 126204/89,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Мухамедханов, У. Т.
Опубликовано: Ташкент , 1989
Физические характеристики: 22 с. : ил.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr16358180000
005 20070412163946.0
021 # # $a RU  $b [90-3928а] 
100 # # $a 20070412d1989 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a UZ 
200 1 # $a Колориметрический контроль параметров тонких пленок в производстве интегральных схем  $e (05.11.13)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $f Ташк. политехн. ин-т им. Абу Райхана Беруни 
210 # # $a Ташкент  $d 1989 
215 # # $a 22 с.  $c ил. 
300 # # $a Библиогр.: с. 20-22 (15 назв.) 
686 # # $a 05.11.13  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Мухамедханов  $b У. Т.  $g Улугбек Тургудович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070412  $g psbo