Колориметрический контроль параметров тонких пленок в производстве интегральных схем: (05.11.13): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук / Ташк. политехн. ин-т им. Абу Райхана Беруни
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Мухамедханов, У. Т. |
Опубликовано: | Ташкент , 1989 |
Физические характеристики: |
22 с. : ил.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr16358180000 | ||
005 | 20070412163946.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [90-3928а] |
100 | # | # | $a 20070412d1989 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a UZ |
200 | 1 | # | $a Колориметрический контроль параметров тонких пленок в производстве интегральных схем $e (05.11.13) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук $f Ташк. политехн. ин-т им. Абу Райхана Беруни |
210 | # | # | $a Ташкент $d 1989 |
215 | # | # | $a 22 с. $c ил. |
300 | # | # | $a Библиогр.: с. 20-22 (15 назв.) |
686 | # | # | $a 05.11.13 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Мухамедханов $b У. Т. $g Улугбек Тургудович |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070412 $g psbo |