Экспериментально-статистические метода обеспечения параметрической надежности при проектировании и опытной обработке технологического оборудования для производства изделий микроэлектроники: Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук: (05.02.12) / Моск. ин-т электронной техники

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ309216СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Летягина, В. П.
Опубликовано: М. , 1976
Физические характеристики: 23 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr14268160000
005 20070320180705.0
100 # # $a 20070320d1976 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Экспериментально-статистические метода обеспечения параметрической надежности при проектировании и опытной обработке технологического оборудования для производства изделий микроэлектроники  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук  $e (05.02.12)  $f Моск. ин-т электронной техники 
210 # # $a М.  $d 1976 
215 # # $a 23 с. 
300 # # $a Список работ авт.: с. 22-23 (9 назв.). Для служебного пользования 
686 # # $a 05.02.12  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Летягина  $b В. П. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070320  $g psbo