Разработка методов ускоренных испытаний и контроля технического состояния интегральных микросхем: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.11.13) / Всесоюз. заоч. машиностроит. ин-т
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Куликов, В. В. |
| Опубликовано: | М. , 1985 |
| Физические характеристики: |
16 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr13565550000 | ||
| 005 | 20070313170655.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070313d1985 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Разработка методов ускоренных испытаний и контроля технического состояния интегральных микросхем $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук $e (05.11.13) $f Всесоюз. заоч. машиностроит. ин-т |
| 210 | # | # | $a М. $d 1985 |
| 215 | # | # | $a 16 с. |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 16 (10 назв.). Для служеб. пользования |
| 686 | # | # | $a 05.11.13 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Куликов $b В. В. $g Валерий Владимирович |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070313 $g psbo |