Разработка методов ускоренных испытаний и контроля технического состояния интегральных микросхем: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.11.13) / Всесоюз. заоч. машиностроит. ин-т
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Куликов, В. В. |
| Опубликовано: | М. , 1985 |
| Физические характеристики: |
16 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||