Исследование термостимулированной экзоэлектронной эмиссии и возможностей экзоэмиссионной диагностики материалов электронной техники: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук: (01.04.07)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Крюк, В. И. |
| Опубликовано: | М. , 1979 |
| Физические характеристики: |
43 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr13308760000 | ||
| 005 | 20070301135823.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070301d1979 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Исследование термостимулированной экзоэлектронной эмиссии и возможностей экзоэмиссионной диагностики материалов электронной техники $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук $e (01.04.07) |
| 210 | # | # | $a М. $d 1979 |
| 215 | # | # | $a 43 с. |
| 300 | # | # | $a В надзаг.: Моск. ин-т стали и сплавов. Библиогр.: с. 41-43 (40 назв.) |
| 686 | # | # | $a 01.04.07 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Крюк $b В. И. $g Владимир Иванович |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070301 $g psbo |