Исследование термостимулированной экзоэлектронной эмиссии и возможностей экзоэмиссионной диагностики материалов электронной техники: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра техн. наук: (01.04.07)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Крюк, В. И. |
| Опубликовано: | М. , 1979 |
| Физические характеристики: |
43 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||