|
|
|
|
|
00000cam0a22000001ia4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr13044160000 |
| 005 |
20160114123135.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20070227d1992 y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a MD
|
| 200 |
1 |
# |
$a Диагностика поверхностей, границ раздела полупроводников и тонкопленочных структур методом отраженной оптической второй гармоники
$e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ-мат. наук
$e (01.04.10)
$f АН Респ. Молдова, Ин-т прикл. физики
|
| 210 |
# |
# |
$a Кишинев
$d 1992
|
| 215 |
# |
# |
$a 18 с.
|
| 300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 16-18 (10 назв.)
|
| 615 |
# |
# |
$a Белорусский национальный документ
|
| 686 |
# |
# |
$a 01.04.10
$2 oksvnk
|
| 700 |
# |
1 |
$a Кравецкий
$b И. В.
$g Игорь Владимирович
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070227
$g psbo
|
| 856 |
4 |
# |
$u http://content.nlb.by/content/dav/nlb/DDC/AD/179329_92.pdf
|
