Диагностика поверхностей, границ раздела полупроводников и тонкопленочных структур методом отраженной оптической второй гармоники: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ-мат. наук: (01.04.10) / АН Респ. Молдова, Ин-т прикл. физики
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Кравецкий, И. В. |
| Опубликовано: | Кишинев , 1992 |
| Физические характеристики: |
18 с.
|
| Язык: | Русский |
| Е-документ: |
E-документ
|
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 0 | Недоступно (См. ссылку на электронный ресурс) | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||