Анализ испытаний интегральных схем: [Пер. с англ.]

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ120724,
Вид документа: Книги
Автор: Копер, Р. Е.
Опубликовано: М. : ин-т «Электроника» , 1968
Физические характеристики: 17 с. : черт. ; 21 см
Язык: Русский
Серия: Переводы иностр. литературы. Серия «Микроэлектроника» Перевод № 22/ЭТ-3048
Предмет:
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr12671760000
005 20070221171619.0
010 # # $d 6 к. 
021 # # $a RU  $b [68-111477] 
100 # # $a 20070221d1968 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Анализ испытаний интегральных схем  $e [Пер. с англ.] 
210 # # $a М.  $c ин-т «Электроника»  $d 1968 
215 # # $a 17 с.  $c черт.  $d 21 см 
225 2 # $a Переводы иностр. литературы. Серия «Микроэлектроника»  $f М-во электронной пром-сти СССР  $v Перевод № 22/ЭТ-3048 
300 # # $a Авт. указан на обороте тит. л.: R. Е. Коерег. Статья из «Edn», 1966, т. 11, № 14 
610 0 # $a Микросхемы пленочные - Испытание 
675 # # $a 621.382.8 
700 # 1 $a Копер  $b Р. Е. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070221  $g psbo