Анализ испытаний интегральных схем: [Пер. с англ.]
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Копер, Р. Е. |
| Опубликовано: | М. : ин-т «Электроника» , 1968 |
| Физические характеристики: |
17 с. : черт. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Переводы иностр. литературы. Серия «Микроэлектроника»
Перевод № 22/ЭТ-3048 |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||