
Анализ испытаний интегральных схем: [Пер. с англ.]
Сохранено в:
格式: | |
---|---|
主要作者: | Копер, Р. Е. |
出版: | М. : ин-т «Электроника» , 1968 |
實物描述: |
17 с. : черт. ; 21 см
|
語言: | Русский |
叢編: |
Переводы иностр. литературы. Серия «Микроэлектроника»
Перевод № 22/ЭТ-3048 |
主題: |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | 可用 預訂 | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|