Метод трехкристального рентгеновского спектрометра и исследование структурного совершенства тонких кристаллических слоев: (01.04.18): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / АН СССР. Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Ковальчук, М. В. |
| Опубликовано: | М. , 1978 |
| Физические характеристики: |
16 с. : схем.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr12227750000 | ||
| 005 | 20070213141208.0 | ||
| 021 | # | # | $a RU $b [78-5531а] |
| 100 | # | # | $a 20070213d1978 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Метод трехкристального рентгеновского спектрометра и исследование структурного совершенства тонких кристаллических слоев $e (01.04.18) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук $f АН СССР. Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова |
| 210 | # | # | $a М. $d 1978 |
| 215 | # | # | $a 16 с. $c схем. |
| 300 | # | # | $a Список работ авт.: с. 15-16 (13 назв.) |
| 686 | # | # | $a 01.04.18 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Ковальчук $b М. В. $g Михаил Валентинович |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070213 $g psbo |