Метод трехкристального рентгеновского спектрометра и исследование структурного совершенства тонких кристаллических слоев: (01.04.18): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / АН СССР. Ин-т кристаллографии им. А. В. Шубникова
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Ковальчук, М. В. |
| Опубликовано: | М. , 1978 |
| Физические характеристики: |
16 с. : схем.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||