Разработка и исследование методов и образцовых средств измерений характеристик диэлектриков малых толщин и диэлектрических пленок: (05.11.05): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук / ВНИИ метрологии им. Д. И. Менделеева

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ327579,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Карих, Н. М.
Опубликовано: Л. , 1978
Физические характеристики: 16 с. : черт.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr11615890000
005 20070130175834.0
021 # # $a RU  $b [78-5905а] 
100 # # $a 20070130d1978 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Разработка и исследование методов и образцовых средств измерений характеристик диэлектриков малых толщин и диэлектрических пленок  $e (05.11.05)  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук  $f ВНИИ метрологии им. Д. И. Менделеева 
210 # # $a Л.  $d 1978 
215 # # $a 16 с.  $c черт. 
300 # # $a Список работ авт.: с. 15-16 (7 назв.) 
686 # # $a 05.11.05  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Карих  $b Н. М.  $g Нелли Михайловна 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070130  $g psbo