Разработка и исследование методов и образцовых средств измерений характеристик диэлектриков малых толщин и диэлектрических пленок: (05.11.05): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук / ВНИИ метрологии им. Д. И. Менделеева
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Карих, Н. М. |
Опубликовано: | Л. , 1978 |
Физические характеристики: |
16 с. : черт.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr11615890000 | ||
005 | 20070130175834.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [78-5905а] |
100 | # | # | $a 20070130d1978 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Разработка и исследование методов и образцовых средств измерений характеристик диэлектриков малых толщин и диэлектрических пленок $e (05.11.05) $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук $f ВНИИ метрологии им. Д. И. Менделеева |
210 | # | # | $a Л. $d 1978 |
215 | # | # | $a 16 с. $c черт. |
300 | # | # | $a Список работ авт.: с. 15-16 (7 назв.) |
686 | # | # | $a 05.11.05 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Карих $b Н. М. $g Нелли Михайловна |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070130 $g psbo |