Разработка и исследование методов и образцовых средств измерений характеристик диэлектриков малых толщин и диэлектрических пленок: (05.11.05): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. техн. наук / ВНИИ метрологии им. Д. И. Менделеева
Saved in:
| Format: | |
|---|---|
| Main Author: | Карих, Н. М. |
| Published: | Л. , 1978 |
| Physical Description: |
16 с. : черт.
|
| Language: | Russian |
ОФХ отдела книгохранения
| All : 1 , available: 1 | Available Place a Hold | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||