Электронно-микроскопическое исследование структуры границ в конденсированных пленках: Автореф. дис. на соиск. учен. степени д-ра физ.-мат. наук: (01.04.07) / Воронеж. политехн. ин-т
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Иевлев, В. М. |
| Опубликовано: | Воронеж , 1976 |
| Физические характеристики: |
39 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr10988190000 | ||
| 005 | 20070109125811.0 | ||
| 021 | # | # | $b [77-1059а] |
| 100 | # | # | $a 20070109d1976 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Электронно-микроскопическое исследование структуры границ в конденсированных пленках $e Автореф. дис. на соиск. учен. степени д-ра физ.-мат. наук $e (01.04.07) $f Воронеж. политехн. ин-т |
| 210 | # | # | $a Воронеж $d 1976 |
| 215 | # | # | $a 39 с. |
| 300 | # | # | $a Список работ авт.: с. 36-38 (45 назв.) |
| 686 | # | # | $a 01.04.07 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Иевлев $b В. М. $g Валентин Михайлович |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070109 $g psbo |