Электронно-микроскопическое исследование структуры границ в конденсированных пленках: Автореф. дис. на соиск. учен. степени д-ра физ.-мат. наук: (01.04.07) / Воронеж. политехн. ин-т
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Иевлев, В. М. |
| Опубликовано: | Воронеж , 1976 |
| Физические характеристики: |
39 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||