Исследование методов испытаний и повышения надежности полупроводниковых запоминающих устройств: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.05)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Иванов, А. Н. |
| Опубликовано: | М. , 1979 |
| Физические характеристики: |
20 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr10818600000 | ||
| 005 | 20061229155026.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20061229d1979 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Исследование методов испытаний и повышения надежности полупроводниковых запоминающих устройств $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук $e (05.13.05) |
| 210 | # | # | $a М. $d 1979 |
| 215 | # | # | $a 20 с. |
| 300 | # | # | $a В надзаг.: Моск. энерг. ин-т. Библиогр.: с. 19-20 (12 назв.). Для служеб. пользования |
| 686 | # | # | $a 05.13.05 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Иванов $b А. Н. $g Александр Николаевич |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20061229 $g psbo |