Исследование методов испытаний и повышения надежности полупроводниковых запоминающих устройств: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.13.05)

Guardado en:
Шифр документа: АЯ367744СК,
Formato: Авторефераты диссертаций
Autor principal: Иванов, А. Н.
Publicado: М. , 1979
Descripción Física: 20 с.
Lenguaje: Русский

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Disponible  Hacer reserva

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
АЯ367744СК ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:2:58 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал