Исследование методом рентгеновской дифракции изменений структурных характеристик облученных сверхпроводящих пленок со структурой А15: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.07)
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Захарченко, И. В. |
Опубликовано: | М. , 1985 |
Физические характеристики: |
17 с. : граф.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr10518280000 | ||
005 | 20061214161741.0 | ||
021 | # | # | $b [85-23574а] |
100 | # | # | $a 20061214d1985 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Исследование методом рентгеновской дифракции изменений структурных характеристик облученных сверхпроводящих пленок со структурой А15 $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук $e (01.04.07) |
210 | # | # | $a М. $d 1985 |
215 | # | # | $a 17 с. $c граф. |
300 | # | # | $a В надзаг.: Моск. инж.-физ. ин-т. Библиогр.: с. 13-14 (10 назв.) |
686 | # | # | $a 01.04.07 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Захарченко $b И. В. $g Игорь Викторович |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20061214 $g psbo |