Исследование методом рентгеновской дифракции изменений структурных характеристик облученных сверхпроводящих пленок со структурой А15: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.07)

Сохранено в:
Шифр документа: 19735/86,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Захарченко, И. В.
Опубликовано: М. , 1985
Физические характеристики: 17 с. : граф.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr10518280000
005 20061214161741.0
021 # # $b [85-23574а] 
100 # # $a 20061214d1985 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование методом рентгеновской дифракции изменений структурных характеристик облученных сверхпроводящих пленок со структурой А15  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e (01.04.07) 
210 # # $a М.  $d 1985 
215 # # $a 17 с.  $c граф. 
300 # # $a В надзаг.: Моск. инж.-физ. ин-т. Библиогр.: с. 13-14 (10 назв.) 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Захарченко  $b И. В.  $g Игорь Викторович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20061214  $g psbo