Исследование методом рентгеновской дифракции изменений структурных характеристик облученных сверхпроводящих пленок со структурой А15: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: (01.04.07)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Захарченко, И. В. |
| Опубликовано: | М. , 1985 |
| Физические характеристики: |
17 с. : граф.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||