Физико-технологические основы полупроводниковой криогенной термометрии: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физико-мат. наук: (01.04.10) / АН УССР, Ин-т полупроводников

Сохранено в:
Шифр документа: 2600/86СК,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Зарубин, Л. И.
Опубликовано: Киев , 1985
Физические характеристики: 32 с.
Язык: Русский

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
2600/86СК ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:2:66 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал