Физико-технологические основы полупроводниковой криогенной термометрии: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физико-мат. наук: (01.04.10) / АН УССР, Ин-т полупроводников
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Зарубин, Л. И. |
Опубликовано: | Киев , 1985 |
Физические характеристики: |
32 с.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|