Количественный рентгеноспектральный микроанализ индивидуальных частиц синтетических минералов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (02.00.02) / Моск. ин-т тон. хим. технологии им. М. В. Ломоносова

Сохранено в:
Шифр документа: 142430/91,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Ван, К. В.
Опубликовано: М. , 1991
Физические характеристики: 20, [1] с. : граф.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr10258240000
005 20061121162428.0
021 # # $b [91-7752а] 
100 # # $a 20061121d1991 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Количественный рентгеноспектральный микроанализ индивидуальных частиц синтетических минералов  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук  $e (02.00.02)  $f Моск. ин-т тон. хим. технологии им. М. В. Ломоносова 
210 # # $a М.  $d 1991 
215 # # $a 20, [1] с.  $c граф. 
300 # # $a Библиогр.: с. 20-21 (12 назв.) 
686 # # $a 02.00.02  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Ван  $b К. В.  $g Константин Владимирович 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20061121  $g psbo