Количественный рентгеноспектральный микроанализ индивидуальных частиц синтетических минералов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (02.00.02) / Моск. ин-т тон. хим. технологии им. М. В. Ломоносова
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Ван, К. В. |
Опубликовано: | М. , 1991 |
Физические характеристики: |
20, [1] с. : граф.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr10258240000 | ||
005 | 20061121162428.0 | ||
021 | # | # | $b [91-7752а] |
100 | # | # | $a 20061121d1991 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Количественный рентгеноспектральный микроанализ индивидуальных частиц синтетических минералов $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук $e (02.00.02) $f Моск. ин-т тон. хим. технологии им. М. В. Ломоносова |
210 | # | # | $a М. $d 1991 |
215 | # | # | $a 20, [1] с. $c граф. |
300 | # | # | $a Библиогр.: с. 20-21 (12 назв.) |
686 | # | # | $a 02.00.02 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Ван $b К. В. $g Константин Владимирович |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20061121 $g psbo |