Количественный рентгеноспектральный микроанализ индивидуальных частиц синтетических минералов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (02.00.02) / Моск. ин-т тон. хим. технологии им. М. В. Ломоносова
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Ван, К. В. |
| Опубликовано: | М. , 1991 |
| Физические характеристики: |
20, [1] с. : граф.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||