Исследование экситонных и примесных состояний в кристаллах и эпитаксиальных слоях полупроводников GaN, GaP, ВP, SiC, GaAs, InAs и твердых растворов на их основе спектроскопическими и люминесцентными методами: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук: (01.04.07)

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ483125,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Жумакулов, У.
Опубликовано: Л. , 1983
Физические характеристики: 43 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr10231380000
005 20061120182956.0
021 # # $b [83-14708а] 
100 # # $a 20061120d1983 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Исследование экситонных и примесных состояний в кристаллах и эпитаксиальных слоях полупроводников GaN, GaP, ВP, SiC, GaAs, InAs и твердых растворов на их основе спектроскопическими и люминесцентными методами  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук  $e (01.04.07) 
210 # # $a Л.  $d 1983 
215 # # $a 43 с. 
300 # # $a В надзаг.: Ленингр. политехн. ин-т им. М. И. Калинина. Библиогр.: с. 41-43 (29 назв.) 
686 # # $a 01.04.07  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Жумакулов  $b У.  $g Урал 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20061120  $g psbo