
Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук: 01.04.05 / Казанцев Дмитрий Всеволодович
Zapisane w:
Format: | |
---|---|
1. autor: | Казанцев, Д. В. |
Wydane: | Москва , 2006 |
Opis fizyczny: |
47 с. : ил.
|
Język: | Русский |
Hasła przedmiotowe: |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Dostępne Zamów | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|