Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук: 01.04.05 / Казанцев Дмитрий Всеволодович
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Казанцев, Д. В. |
Опубликовано: | Москва , 2006 |
Физические характеристики: |
47 с. : ил.
|
Язык: | Русский |
Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|