Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук: 01.04.05 / Казанцев Дмитрий Всеволодович
Gespeichert in:
| Format: | |
|---|---|
| 1. Verfasser: | Казанцев, Д. В. |
| Veröffentlicht: | Москва , 2006 |
| Beschreibung: |
47 с. : ил.
|
| Sprache: | Русский |
| Schlagworte: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Verfügbar Bestellen | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||