Неразрушающее тестирование запоминающих устройств: монография / Ярмолик В.Н. [и др.]

Сохранено в:
Шифр документа: 1Ба422680, 1Ба422681,
Вид документа: Книги
Опубликовано: Минск : Бестпринт , 2005
Физические характеристики: 229 с. ; 20 см.
Язык: Русский
Предмет:

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 2 , доступно: 2 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
1Ба422680 ОФХ отдела книгохранения (039) 15:4:8:44 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал
1Ба422681 ОФХ отдела книгохранения (039) 15:4:8:44 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал