Статистический анализ и оптимизация технологии изготовления интегральных микросхем методом поверхности откликов: диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук: защищена 18.11.04: утверждена 02.02.05: 05.27.01 / Стемпицкий Виктор Романович
Enregistré dans:
| Format: | |
|---|---|
| Auteur principal: | Стемпицкий, В. Р. (род. 1978) |
| Publié: | Минск , 2004 |
| Description matérielle: |
147 л.
|
| Langue: | Русский |
| Sujets: | |
| Accès en ligne: |
E-документ
|
ОФХ диссертаций
| Всего : 1 , доступно: 1 | Disponible Réserver | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||