Статистический анализ и оптимизация технологии изготовления интегральных микросхем методом поверхности откликов: диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук: защищена 18.11.04: утверждена 02.02.05: 05.27.01 / Стемпицкий Виктор Романович
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Стемпицкий, В. Р. (род. 1978) |
| Опубликовано: | Минск , 2004 |
| Физические характеристики: |
147 л.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: | |
| Е-документ: |
E-документ
|
ОФХ диссертаций
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||