Dielectric properties of ion implanted silicon layers / [Auth.]:P.Zukowski,J.Partyka,P.Wegierek a.o.

Guardado en:
Шифр документа: 1Ок93655(ДХ),
Formato: Книги
Publicado: Dubna , 1996
Descripción Física: 6 p.
Lenguaje: Английский
Colección: Communication E14-96-245)
Materias:

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Disponible  Hacer reserva

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
1Ок93655(ДХ) ОФХ отдела книгохранения (039) 12:2:1:17 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал