Dielectric properties of ion implanted silicon layers / [Auth.]:P.Zukowski,J.Partyka,P.Wegierek a.o.

Сохранено в:
Шифр документа: 1Ок93655(ДХ),
Вид документа: Книги
Опубликовано: Dubna , 1996
Физические характеристики: 6 p.
Язык: Английский
Серия: Communication E14-96-245)
Предмет:

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
1Ок93655(ДХ) ОФХ отдела книгохранения (039) 12:2:1:17 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал