Dielectric properties of ion implanted silicon layers / [Auth.]:P.Zukowski,J.Partyka,P.Wegierek a.o.

Gespeichert in:
Шифр документа: 1Ок93655(ДХ),
Format: Книги
Veröffentlicht: Dubna , 1996
Beschreibung: 6 p.
Sprache: Английский
Schriftenreihe: Communication E14-96-245)
Schlagworte:

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Verfügbar  Bestellen

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
1Ок93655(ДХ) ОФХ отдела книгохранения (039) 12:2:1:17 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал