Развитие методов зондовой микроскопии для исследования и контроля поверхностей материалов и изделий микроэлектроники: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: 05.11.13 / Лосев Виталий Викторович
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Лосев, В. В. |
Опубликовано: | М. , 2002 |
Физические характеристики: |
28 с.
|
Язык: | Русский |
Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|