|
|
|
|
|
00000cam0a22000004ia4500 |
| 001 |
BY-NLB-br429834 |
| 005 |
20231211175413.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20020924d2002 k y0rusy50 ||||ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a ru
|
| 105 |
# |
# |
$a a m 001yy
|
| 109 |
# |
# |
$a aa
$a ac
|
| 200 |
1 |
# |
$a Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов
$e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук
$e 01.04.07
$f Еханин Сергей Георгиевич
$g [Том. гос. ун-т систем упр. и радиоэлектроники]
|
| 210 |
# |
# |
$a Томск
$d 2002
|
| 215 |
# |
# |
$a 43 с.
|
| 300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 42-43 (25 назв.).
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar3130678
$a ФИЗИКА КОНДЕНСИРОВАННЫХ СРЕД
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar2705960
$a ЩЕЛОЧНО-ГАЛОИДНЫЕ КРИСТАЛЛЫ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar9575
$a ДИЭЛЕКТРИКИ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar38838
$a ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПОЛЯ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar38862
$a ЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ ПРОЧНОСТЬ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar54729
$a ЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ПРОБОЙ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar4348477
$a ДЕФЕКТООБРАЗОВАНИЕ
$2 DVNLB
|
| 606 |
0 |
# |
$3 BY-NLB-ar53750
$a УДАРНАЯ ИОНИЗАЦИЯ
$2 DVNLB
|
| 686 |
# |
# |
$a 29.19.03
$v 6
$2 rugasnti
|
| 686 |
# |
# |
$a 29.19.23
$v 6
$2 rugasnti
|
| 686 |
# |
# |
$a 29.19.33
$v 6
$2 rugasnti
|
| 686 |
# |
# |
$a 29.19.11
$v 6
$2 rugasnti
|
| 686 |
# |
# |
$a 01.04.07
$2 oksvnk
|
| 700 |
# |
1 |
$3 BY-SEK-531343
$a Еханин
$b С. Г.
$g Сергей Георгиевич
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20020924
$g psbo
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20060316
$g psbo
|
