Дефектообразование, ударная ионизация и электрическая прочность микронных слоев щелочно-галоидных кристаллов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук: 01.04.07 / Еханин Сергей Георгиевич
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Еханин, С. Г. |
| Опубликовано: | Томск , 2002 |
| Физические характеристики: |
43 с.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||