Исследование структурных нарушений полупроводниковых кристаллов возникающих под внешними воздействиями методом рентгенодифракционного муара: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: 05.16.01 / Аршакян Эдуард Завенович
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Аршакян, Э. З. |
| Опубликовано: | Ереван , 2001 |
| Физические характеристики: |
22 с.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |